新式对阵检测模拟器械体系即将出炉

　系统测试的主要参数包括：响应率：通过各像元响应率R（i，j）的计算，得到焦平面的平均响应率R和响应率不均匀性UR；无效像元也叫盲元：通过对死像元d和过热像元h的统计，得到盲元个数和盲元率；噪声：通过各像元噪声电压VN（i，j）的计算，得到焦平面的平均噪声电压VN；噪声等效辐照功率NEP；探测率D：通过各像元探测率D（i，j）的计算，得到焦平面的平均探测率D；固定图形噪声UdR，通常也称为背景的不均匀性等。

　　IRFPA特性参数的测试计算对于漫射方式下的特性参数测试，可归纳为两种辐照条件下的响应电压测试，即背景辐照条件下的响应电压测试，和背景加黑体辐照条件下的响应电压测试，测试时要求两种辐照都必须是恒定均匀的。在测得背景响应电压和黑体响应电压后，响应率等各特性参数可根据定义计算得到。

　　IRFPA测试虚拟仪器系统虚拟仪器以计算机为核心，由外围硬件支撑，通过软件编程确定其测试功能，非常适合用来组建IRFPA的测试系统；焦平面的响应电压是通过读出电路输出的，因此进行参数测试的数据采集控制信号可以利用读出电路的读出控制信号进行适当变换得到；除参数测试外，加上红外成像镜头，系统可以实现实时的红外成像。

　　测试系统的硬件测试系统由黑体源、红外焦平面阵列、导轨、虚拟仪器部分组成，如所示，其中，黑体源提供测试需要的均匀红外辐射，可在导轨上前后移动调节与IR-FPA的距离从而达到适量调整辐射强度的目的；虚拟仪器部分是完成测试的核心，包括驱动信号源、数据采集卡、接线盒、计算机和测试系统软件。

　　IRFPA测试系统组成框图对于要求实时成像的焦平面器件，必须满足大于25帧/秒的数据输出，因此焦平面规模越大，像元数越多，这是A/D转换精度为12位的多功能DAQ卡，其最小分辨率<0.1mV，全部4路通道中每路最高采样率可达10Mbit/s且可实现同步并行采集，32Mbyte的卡上内存为大量数据的采集提供了条件<5>，因此测试系统可以胜任更高读出频率、更多像元面阵的参数测试。

　　测试系统的数据采集控制为了保证测试系统数据采集的正确，系统将信号源提供的与器件读出频率一致的A/D转换控制信号AD_Ctr接入数据采集卡的外部时钟控制采样端，使信号源在驱动IRFPA工作的同时控制数据的采集，而在没有像元的地方，A/D转换控制信号则应为固定高电平或低电平，这样才能保证只采集到有用信号，即器件有视频输出的那部分信号，否则将会得到错误的测试结果，也无法进行成像。这种A/D转换控制信号是利用成像的场起始、行起始、行结束、场结束等信号，通过驱动信号源的CPLD进行信号变换得到的。
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